位相シフト法を用いて表面形状を計測します。
光切断法と同一原理
輝度変化が正弦波の濃淡パターンを投光機から照射し、各位置の正弦波の位相を計算することにより、位置情報を算出します。


位相シフト法を用いて表面形状を計測します。
光切断法と同一原理
輝度変化が正弦波の濃淡パターンを投光機から照射し、各位置の正弦波の位相を計算することにより、位置情報を算出します。


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