画像処理事例集

テクノスは画像処理のエキスパートです。
画像処理ソフトウェアだけでなく、高速処理ボードの独自開発から、照明やカメラ、搬送・ハンドリングを含め、お客様のご要望に応じたシステム化を実現します。
画像処理で品質検査をしたい、生産現場で省力化をしたい、世の中にある汎用的製品ではうまくいかない等、困ったことがあれば、せびご相談ください。
テクノスは、かゆいところにも手が届くサービスを心がけています。

異物、キズなどの欠陥検査

パターンオープン/ショート パターンキズ フィルターの汚れ・異物 ピンのキズ

基板の配線パターンやチップパターンの欠陥検査

パターン<br />
オープン/ショート・オープン/ショートの検出
・異物の有無を判別

キズの特徴から
判断する新方式

パターンキズ面倒なパターン登録が不要

メンブランフィルターの
汚れ・異物計測

フィルターの汚れ・異物フィルターのように表面が平坦でないワークでもOK

全周表面を
欠陥検出

ピンのキズピンを回転させて全周表面の欠陥を検出

布地の汚れ・ほつれ シートピンホール リング表面の異物 金属薄板のシワ

布地の汚れ、
ほつれを検出

布地の汚れ・ほつれラインセンサカメラを使って長尺生地も連続検査

毎秒7500万pixelで
高速検査

シートピンホールシート表面のピンホール検出、穴径、面積、位置座標、周期を算出

加工痕のあるリング表面の異物検出

リング表面の異物従来は難しいとされていたリング状痕やキズ、ホコリも高精度に検出

金属薄板の
シワ検出

金属薄板のシワ照明の工夫と画像処理技術でシワを認識

 

計測・計数

寸法計測
バーの自動計数 色差検査
体積測定

機械部品の2点間の寸法を画像処理で計測

寸法計測自動高さ補正機能付で表面に段差のあるワークもOK

ランダムに配置された
バーを自動計測

バーの自動計測サンプルの傾きや重なりを認識して、個別にカウント

分光特性で色を「測る」
CIE L*a*b* 表示

色差検査ロール to ロール印刷物など大面積の測定物を高速測定

光切断法で
「体積測る」

体積測定体積管理精度 :±1%
ローコストで体積測定

 

その他、生産現場での省力化

モニタ画面OCR
FPD光学特性測定

モニタ画面の文字を
読み取り、データ化

モニタ画面OCR既存システムはそのままで、複数システムをバッチ処理化

FPDの応答速度測定に
機能をフォーカス

FPD光学特性測定シンプル機能と簡易システム構成で低価格を実現

 

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